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主營產品:油基熒光檢漏劑,雙波長高強度紫外線燈,探傷黑光燈

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雙探頭紫外輻照計

雙探頭紫外輻照計

更新時間:2024-10-17

訪問量:1662

廠商性質:代理商

生產地址:北京

簡要描述:
UV-B型雙探頭紫外輻照計適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。波長范圍λ1,峰值波長λp:(230~275)nm,λP=254nm。波長范圍λ2,峰值波長λp:(275~330)nm,λP=297nm。

UV-B型雙探頭紫外輻照計
產品概述

紫外輻照計已取得制造計量器具許可證和計量器具型式批準證書。
紫外輻照計執(zhí)行企業(yè)標準Q/HDSDY0003-2014。
UV-B型紫外輻照計采用SMT貼片技術,選用低功耗數字芯片,儀器外殼為流線型設計,探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
 
UV-B型雙探頭紫外輻照計的特點
光譜及角度特性經嚴格校正
數字液晶顯示,帶背光
手動/自動量程切換
數字輸出接口(USB,冗余供電)
低電量提醒
自動延時關機
有數字保持
輕觸按鍵操作,蜂鳴提示
 
UV-B型的技術規(guī)格:

項目

參數

波長范圍λ1,峰值波長λp

(230~275)nm,λP=254nm

波長范圍λ2,峰值波長λp

(275~330)nm,λP=297nm

輻照度測量范圍

(0.1~199.9×103) μW/cm2

紫外帶外區(qū)雜光

UV254<0.1%,UV297<0.05%

相對示值誤差

±8%(相對于NIM標準)

角度響應特性

±5% (α≤10°)

線性誤差

±1%

換檔誤差

±1%

短期不穩(wěn)定性

±1%(開機30min后)

疲勞特性

衰減量<2%

零值誤差

滿量程的±1%

響應時間

<1秒

使用環(huán)境

溫度(0~40)℃;濕度<85%RH

尺寸和重量

160mm×78mm×43mm;0.2kg

電源

6F22型9V積層電池(非充電電池)

整機功耗

<0.1VA

配置包括:讀數顯示單元、探頭(短波254nm探頭1個,中波297nm探頭1個)、探頭蓋、數據線、說明書、合格證/保修單、9V積層電池、儀器包裝箱。

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